Blacklight

Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée

Auteur :
Dahoo Pierre Richard
Pougnet Philippe, auteur
El Hami Abdelkhalak, ed. scientifique
Publication :
London : ISTE editions, cop. 2016
Description :
, 1 vol. (289 p.), ill. : 24 cm
Collection :
Génie mécanique et mécanique des solides
Collection Génie mécanique et mécanique des solides
Note :
Bibliogr. p. [269]-284. Index
ISBN :
978-1-78405-165-5
Langue :
français
Type de document :
Livre
Thèmes :
Mécatronique
Polarisation (lumière)
Détection de défaut (ingénierie)

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